デュアルタイプ膜厚計 LZ-990「エスカル」

摘要

デュアルタイプ膜厚計LZ-990「エスカル」は、必要最小限の操作キーを備えたシンブルな膜厚計。しかしながら膜厚管理に必要な機能は充実し、アブリケーション·メモリ（検量線メモリ）機能、測定データ·メモリ、膜厚管理の上下限設定、簡单な統計処理、データ出力など15種の機能を装備。磁性金属上の非磁性被膜、非磁性金属上の絶縁被膜厚の測定が可能。