リーク電流を利用したPUFの回路構造の提案とシミュレーション評価

摘要

LSIの個体識別技術の一つに、半導体の物理的特徴を利用したPUF（Physically Unclonable Function）がある。この技術により、正規品の認証が可能となり、模造品の流通を防ぐことが期待されている。しかし近年、機械学習の発展により、認証を回避される可能性が指摘されている。本研究では、機械学習耐性の向上を目的として、サブスレッショルドリーク電流を利用したPUF（LR-PUF: Leak Racing PUF）を提案する。また、LR-PUFを回路として実装し、シミュレーション評価を行う。