НОВЫЙ ТИП АНАЛИЗАТОРА ЧАСТИЦ ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ИОННОЙ ТЕМПЕРАТУРЫ ПЛАЗМЫ

摘要

Применение эффективных методов корпускулярной диагностики для определения ионной температуры плазмы на современных плазменных установках представляет большой практический интерес. В данной работе предложен новый тип анализатора, в котором ионизация частиц перезарядки происходит при их отражении от металлической поверхности. В качестве ионизатора использована мелкоструктурная никелевая сетка. Приведены экспериментальные результаты применения анализатора на установке Т-10 и выполнена оценка ионной температуры при омическом нагреве плазмы. Показано, что оцененная таким способом ионная температура T_i = 670 эВ отличается от рассчитанной по формуле Арцимовича на 10% и от определённой методом активной спектроскопии CXRS примерно на 3%.