（3520）金めっき小型検査装置

摘要

産業技術総合研究所（産総研）は、住友電工プリントサーキット（株）と連携して、光学的な手法により金めっき表面を測定して光沢ムラの数値化を行い、自動判別を可能とする汎用性に優れた小型検査装置を開発した。この装置はフレキシブルプリント回路基板（FPC）の金めっき外観検査などに使用できる。