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【24h】

音場、音圧場とその測定

机译:声场,声压场和测量

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摘要

今回は音場の話である。音場は直接測る事ができないので、音圧場やエコー高さの等高線が代用される。実際の音圧のより正しい測定法などについて言及する。第1図や同様の図が「音場」又は「音圧場」の例として多くの本に掲載されている。が、図の左にスケッチで描いたが、平面振動子の前に回折格子を配置して、6個の隙間から出た音のと「音圧」相当をシュリーレン法で観測したもので、平面振動子の音圧場の観測例ではない。寧ろ平面振動子からの平面波の送信音圧場と複数の疑似点音源からの音圧場は異なる事を示している。アレイ探触子も素子ピッチと制御位相を等価波長より十分小さくしないと上手く機能せず、大きなグレイティング·ロブが発生する。激しい干渉は各隙間から出てきた音のBED(Beam Edge Diffusion and Diffraction)による。「音圧が低い」=「反射が弱い」とは限らず、誤解されている。
机译:这次是声场的故事。由于声场无法直接测量,声压场和回声高度的轮廓线被替换。请参阅更准确的实际声压测量方法。在许多书籍中发表了同样的图形和相同的图形作为“声场”或“声压场”的示例。然而,尽管它在图的左侧绘制,但是衍射光栅放置在平面振荡器的前面,并且用六个间隙观察“声压”,并且通过Schleren方法观察“声压”。它不是振动器的声压场的观察例。而是,来自平面振荡器的平面波的发射效用和来自多个伪点声源的声压场不同。如果元件间距和控制阶段不足够小于等效波长,则阵列探针不起作用很好,并且产生大的等级罗波。挣扎的干扰取决于每个间隙的光束边缘扩散和声音的衍射。 “低声压”=“反射弱”但误解了。

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