メモリコアに対する組込み自己修復を考慮したSoCのテストスケジューリング

摘要

本研究では，システムオンチップに搭載されている組込み自己修復機能を持つメモリコアに対する消費電力制約下でのテストスケジューリング法を提案する．提案手法では，組込み自己修復機能を持つメモリコアは，テスト，診断·修復，再テストの3つのステージによりテストされるとし，各ステージはその順序関係を満たしていれば連続して行われる必要はないとすることで，より効率的なテストスケジューリングを可能とする．また，故障が最初に検出された時点でシステムオンチップのテストを終了するというabort-on-failの概念を利用することで，テスト時間の期待値の削減が可能である．