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机译:通过磁力显微镜检测电流路径周围的磁场梯度
Institute of Industrial Science University of Tokyo 4-6-1 Komaba Meguro-ku Tokyo 153-8505;
magnetic force microscopy (MFM); current detection; magnetic field gradient; electrostatic force; GaAs/AsGaAs mesa stripe;
机译:磁力显微镜检测电流路径周围的磁场梯度
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