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S_8ガスによる車載電子機器内部の銀部材の腐食と信頼性に関する研究

机译:研究腐蚀和银构件内的车载电子设备的可靠性由S_8气体

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摘要

一般的な電子機器の構造を図1に示す。電子機器の構造は,銀により形成された回路配線パターンや,電子部品が実装された回路基板をベースに設置し全周をケースとコネクタで覆う筐体構造であり,ベースとケースおよびコネクタの接合部をシリコーンで封止することで防水構造としている。しかし,エンジンルームに装着されるゴム部品から放出される単体硫黄ガス(S_8)などの腐食性ガスに曝された場合,ガス透過性の高いシリコーンを透過し筐体内部の回路基板の銀配線を腐食させる懸念がある。電子機器形態で腐食環境に曝された場合の銀部材の腐食についての研究はほとhどなく,車載電子機器の腐食信頼性設計技術の構築が望まれていた。
机译:典型电子设备的结构如图2所示。 电子器件的结构是由银的电路布线图案和基于安装有电子元件的电路板和覆盖整个圆周的电路板,以及壳体和连接器,以及基座和壳体和连接器的壳体结构结通过用硅树脂密封零件来使用防水结构。 然而,当从安装在发动机室中安装的橡胶部件发射的诸如单硫气体(S_8)之类的腐蚀性气体时,透气性硅树脂在壳体内部传递,并且电路板的银线是有疑问的腐蚀。 期望对腐蚀环境暴露于电子形式的腐蚀环境时的研究,但需要对车载电子设备进行腐蚀可靠性设计技术的构建。

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