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サンプリングモアレ法による微小変位分布計測技術とその応用

机译:采用MOIRE法及其应用,微位移分布测量技术

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摘要

全視野変位計測手法として,変形前後の画像上のランダムなパターンの相関から変位量を求めるデジタル画像相関法や干渉性の高いレーザを光源とするスペックル干渉法などが挙げられる.一方,近年変形前後の各1枚の格子画像から格子ピッチの数百分の1の精度で微小変位を簡便に検出できるサンプリングモアレ法が開発され,今後多くの実験力学分野での使用が期待されている.ここでは,サンプリングモアレ法による微小変位分布計測の基本原理を説明するとともに,サンプリングモアレ法についての応用例をいくつか紹介する.
机译:作为总观点位移测量方法,用于获得位移量和高度相干激光器的数字图像相关方法,用于从变形之前和之后的图像上的随机图案的相关性获得位移量包括散斑干扰方法,例如a光源。 另一方面,能够简单地检测微位移的采样Moiré方法是在近年来变形之前和之后的一个网格图像开发,并且开发了一种可以容易地检测微位移的采样莫尔方法,预计将在许多方面使用未来的实验力学。 这里,将描述通过采样莫尔法测定微量位移分布测量的基本原理,并引入了用于采样莫尔法的一些应用。

著录项

  • 来源
    《実験力学》 |2010年第4期|共4页
  • 作者

    李志遠; 藤垣元治;

  • 作者单位

    東北大学大学院工学研究科;

    和歌山大学システム工学部;

  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 jpn
  • 中图分类 光学;
  • 关键词

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