LCD用液晶配向膜表面におけるポリイミド分子鎖の配向評価

摘要

高分子薄膜のNEXAFS測定では電子収量法が用いられるので，得られるのは最表面の情報となる。まとめると，NEXAFSにより高分子薄膜最表面おけるモノマーの分子配向を評価することができる。従って，GIXDとNEXAFSを組み合わせることにより，高分子鎖およびモノマーという異なる切り口での配向評価が可能となる。本報では，ラビングによるポリイミド薄膜の配向をGIXDとNEXAFSを用いて評価した結果について述べる。また，NEXAFSは化学反応の解析にも有効なので，ポリイミド膜のイミド化反応の解析に応用した例を紹介する。