世界遺産石見銀山の科学的調査について

摘要

今回の研究成果のひとつとして，携帯型蛍光X線分析装置が比較的精度良く，かつ鉱石試料の各部分毎の迅速分析を非破壊にて実施可能である事を確認した点が挙げられる。今後の調査においては，この携帯型蛍光X線分析装置を用いた坑内および露頭面での非破壊分析による成分分析により，銀の分布挙動等についての調査が可能となる。さらに，福石等の不均質な鉱染型の鉱石の解析作業にあたり，X線CTスキャナが大きな威力を発揮することを確認した。今後はそれらの機器を活用し，坑内および露頭での福石の調査を実施したい。