120°C環境下での光再構成試験

摘要

宇宙空間の組み込みシステムは，宇宙放射線が飛び交い，広範囲な温度という劣悪な環境に耐える必要がある．そのような状況下でも，正常に動作が可能な宇宙用プログラマブルデバイスとして，我々は，光再構成型ゲートアレイを研究開発している．この光再構成型ゲートアレイは光により高速動的再構成が可能で，レーザアレイ，ホログラムメモリ，ゲートアレイVLSIから構成される．ホログラムメモリには大量のコンテキスト情報を蓄えることができ，レーザアレイを用いて所望のコンテキスト情報を選択し，ゲートアレイにプログラムすることができる．しかし，これまでのホログラムメモリは，温度の上昇により，パターンの形状，サイズが変化したり，回折効率が低下するという問題点があった．そこで，我々は集積回路と同程度の120°Cに耐えられるホログラムメモリを開発した．本稿では，そのホログラムメモリを用いて，120°C環境下においても問題なく光再構成が可能であることを示す．