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シールド型MRヘッドの高密度再生応答特性とそのパラメータ依存性

机译:屏蔽MR头的高密度再现响应特性及其参数依赖性

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摘要

ハードディスクの高記録密度化に伴い再生ヘッドの高い分解能が必須である.シールド型MRヘッドの再生分解能は3次元電磁界シミュレーションによって精密に求めることができる.本報告ではシールド型MRヘッドの高線密度記録情報の再生応答について,そのシールドギャップやMR素子高さや媒体のビットサイズなどのパラメータに対する依存性を計算した.再生分解能の向上にはシールドギャップを狭めることが重要であるが,条件によってはMR素子の高さも影響が大きいことが分かった.高密度ビットパターン媒体についての再生応答も求めた.
机译:随着硬盘的高记录密度,再现头的高分辨率至关重要。 可以精确地通过三维电磁场模拟精确地确定屏蔽MR头的再现分辨率。 在本报告中,计算屏蔽MR头的再现响应,用于屏蔽间隙,MR元件高度和介质的比特大小的再现响应。 重要的是要缩小屏蔽隙以提高再现分辨率,但根据条件,发现MR元素的高度也很大。 还获得了对高密度比特模式介质的再循环响应。

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