パターン板の虚像からの受動式鏡面位置·形状計測法

摘要

一般的鏡面を対象とした従来の画像討測について，封測対象領域の昼さ，簡易さ，精度，再現性に優れた方法ほまだ確立されていなく，特に受動式手法については研究例が極めて少なく，今後の研究が大いに期待されている。 本論文では，鏡面を対象として受動式手法により簡易かつ高い精度で検出する新たな手法を提案する．この手法はパターン表示するためのパターン枚を2枚用い，固定された1台のカメラで観察した位相ずらしパタ－ンの虚像から，カメラへの入射光路を高精度に特定し，三角測量原葦削こより鏡面の位置と形状を幾何学的に算出する手法であり，簡便さと高い精度"安定性が特徴である．実際に，平面鏡，凹面鏡にこの提案手法を適用し，平面鏡では，平均位置誤差01mm以内，位置誤差絶対値平均017mm，標準偏差0.15mm，凹面鏡では，平均位置誤差0．1mm以内，位置誤差絶対値平均0．25mm，標準偏差019mmが得られた．また，パターン板ドノトピソテによる量子化誤差を定量的に見積もり，その結果が計測結果とよく一致することから，誤差の主要因が量子化誤差によるものであることを明らかにした．