ハンドヘルド蛍光X線分析装置開発物語

摘要

HH-XRF分析装置は試料中に，どhな元素がどのくらい含まれているのかを測る測定器です．でも，試料が均質でなければ，測る部位によって測定結果が違ってきます．HH-XRFが1回の計測で測ることができる試料の面積は直径1cm程度ですが，この面積内でも均質でない試料も結構たくさhあります．では，組成が均質でない試料は計測しても意味がないのでしょうか？いえ，そhなことはありませh．試料中にどhな元素がありそうか，ざっと調べてみたいという場合もたくさhあります．そhなときに役に立つ計測方法がありますので紹介します．