非破壊検査としての光3次元形状計測装置に対する現場からの要求と精度検証について

摘要

工業界において寸法測定のための光学式（非接触式）3次元座標測定機が活用され始めてから，すでに20年以上が経過する。2009年には，日本工業規格としてJIS B 7441「非接触座標測定機の受入検査及び定期検査」規格が制定され，更に，2015年，JIS B 7440-8：2015として改訂された。この規格は長さ測定における座標測定機の性能が，製造業者の仕様に適合するかどうかを検証するための受入検査について規定している。更に，使用者が定期的に検証するための定期検査についても規定している。この規格で規定する受入検査及び定期検査は，光学式距離センサ付きの直交形座標測定機に適用されるため，この規格を，光軸と直行する方向に感度を持つ，本稿で取り上げる画像測定機（いわゆるパターン投影方式3次元座標測定機）等の，非直交形座標測定機に適用する場合には，JIS B 7440-8附属書JBを参照する必要がある。このようにJIS規格では非直交形座標系測定機の規格に関してはまだ完成の段階には達していない。更に，計測現場で使えるような簡易的な検査方法も確立しておらず，本稿ではこれらの現場の要請なども含めて論述する。