超短パルス粉末X緑回折による光励起ピコ秒構造相転移計測技術の開発

摘要

わが国のX線自由電子レーザー施設SACLAの供用が2012年から始まり，1）われわれは高輝度?超短パルス性·完全空間コヒーレンスなどの特徴を有する，これまでにないまったく新しいⅩ線光源であるⅩ線自由電子レーザー（XfEL）を利用できるようになった．このⅩfELを用いて，現在，さまざまな独創的な研究が行われている．2）－7）われわれはこのXFELの高輝民超短パルスの特徴に着目し，フェムト秒光レーザーを照射した際に結晶物質中で起きるピコ秒オーダーの時間での構造変化を実験的に観測する方法の開発を進めている．本解説では，われわれが取り組hでいる計測技術と現在得られている計測結果について紹介する．