Методический аппарат тестово-кодовой коррекции ошибок оперативных запоминающих устройств

摘要

Предложен метод тестово-кодовой коррекции ошибок оперативных запоминающих устройств, который заключается в том, что для обнаружения возникающих ошибок используется алгебраический линейный код, а определение конфигурации (ошибочных разрядов) одиночных двойных ошибок и их коррекция проводятся по значению синдрома ошибки и результатам анализа ответной реакции, полученной на основе подачи тестового воздействия. Предлагаемый тестово-кодовый метод обнаружения и коррекции ошибок в отличии от известных позволяет: 1. корректировать 100% одиночных ошибок; 2. корректировать двойные ошибки в информационных блоках; 3. иметь минимальную информационную избыточность (два контрольных разряда при любом числе информационных разрядов); 4. обеспечить высокую достоверность функционирования (обнаруживать 100% возможных ошибок, включая ошибки, трансформируемые в разрешенные (безошибочные) кодовые наборы); 5. обнаруживать скрытые ошибки; 6. минимизировать аппаратурные затраты на построение декодирующего устройства (не требует хранения таблицы синдромов ошибок и использует минимальную таблицу поправок); 7. исключает методическую ошибку декодирования (характерную для большинства декодирующих устройств, реализующих метод "максимума правдоподобия", когда ошибки различной кратности, имеющие одинаковый синдром и принадлежащие одному смежному классу, корректируются исходя из кодового расстояния выбранного линейного кода); 8. минимизировать временные затраты на коррекцию ошибок (требуется подача одного тестового воздействия, которое может подаваться только при обнаружении ошибок).