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【24h】

di/dt検出回路を用いたアクティブ基板ノイズ低減回路の検討

机译:使用DI / DT检测电路检查有源基板降噪电路

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摘要

本論文では、前研究により提案されているdi/dt検出回路を用いたフィードフォワード·アクティブ基板ノイズ低減手法に関して、さらなるノイズ低減に向けた検討について報告する。さらなるノイズ低減を実現するために、本研究ではdi/dt検出回路を構成するパラメータの解析を行い、より効果的なノイズ低減を実現するための設計手法の検討を行った。 提案回路は0.35μmCMOSプロセスに用いて設計を行い、得られた測定結果から100MHzから700MHzの動作周波数の範囲において10%から62%のノイズ低減を確認した。 300MHzにおいては62%のノイズ低減を確認した。 また、一般的に用いられるガードリングと比較しても、5倍近くのノイズ低減効果が得られることがわかった。
机译:在本文中,我们报告了使用先前研究提出的DI / DT检测电路的前馈激活基板降噪方法的进一步降噪检查。 为了实现进一步的降噪,该研究分析了构成DI / DT检测电路的参数,并检查了实现更有效的降噪的设计方法。 使用0.35μmCMOS工艺设计了所提出的电路,从获得的测量结果,在100MHz至700MHz的工作频率下确认10%至62%的降噪。 在300 MHz,确认了62%的降噪。 此外,发现与一般使用的防护环相比,可以获得接近5倍的降噪效果。

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