原子力プラント·関連設備向け計装制御システム“MELTAC-CX”

摘要

近年，半導体の製造プロセスの微細化，低電圧化に伴う一過性異常の発生が無視できなくなっており，一過性異常に対する耐性向上と発生時の対策を実施し，最新デバイスを活用しつつ，原子力プラント·関連設備向け計装制御システムに求められる信頼性を確保した。