大日本印刷など，“ナノ人工物メトリクス”を開発

摘要

大日本印刷は横浜国立大学大学院，情報通信研究機構，東京大学大学院と共同で，人工物の物理的な特徴を認識して個体認証を行なう技術“ナノ人工物メトリクス”において，数ナノメートル単位の微細でランダムなパターンでの認証を実現した。