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机译:薄膜厚度和Ti interlayer对纳米型Cu薄膜结构和性能的影响
Natl Tsing Hua Univ Dept Engn &
Syst Sci Hsinchu 30013 Taiwan;
Natl Tsing Hua Univ Dept Engn &
Syst Sci Hsinchu 30013 Taiwan;
Natl Tsing Hua Univ Dept Engn &
Syst Sci Hsinchu 30013 Taiwan;
Nanotwin; Cu; Sputter; Interlayer; Film thickness; Nanocrystalline thin film;
机译:薄膜厚度和Ti interlayer对纳米型Cu薄膜结构和性能的影响
机译:Cu添加量,膜厚和热处理对Ti-Ni形状记忆合金薄膜相组成,织构和力学性能的影响的组合研究
机译:湿化学法制备的纳米结构掺杂铜的ZnS多晶薄膜:掺杂铜和膜厚对结构,光学和电学性质的影响
机译:溶胶 - 凝胶法制备的Bi_(3.15)Nd_(0.85)Ti_3O_(12)薄膜的微观结构和铁电性能的影响
机译:脉冲激光沉积生长的外延YBa2Cu3O7-8薄膜和YBa2Cu3O7-8 / PrBa2Cu3O7-8异质结构的超导性能
机译:Pb(Zr0.53Ti0.47)O3薄膜中铁电和光学性质的厚度依赖性
机译:CaRuO 3中间层对脉冲激光沉积制备Ba(Zr,Ti)O 3薄膜介电性能的影响