机译:高迁移率氧氮化锌薄膜晶体管的电不稳定性
Chung Ang Univ Sch Elect &
Elect Engn Seoul South Korea;
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Elect Engn Seoul South Korea;
zinc oxynitride thin-film transistor; environmental water; electrical performance and stability; defective ZnXNY bond;
机译:高迁移率氧氮化锌薄膜晶体管的电不稳定性
机译:钽掺杂对高迁移率氮氧化锌薄膜晶体管电学特性的影响
机译:通道层厚度对高迁移率氧化锌薄膜晶体管的电气和热稳定性的影响
机译:氟掺杂氧氮化锌薄膜晶体管的电气特性
机译:高k电介质氧化锌薄膜晶体管的电不稳定性和界面电荷的研究。
机译:使用掺Sr的Al2O3栅介质的高迁移率喷墨印刷铟镓锌氧化物薄膜晶体管
机译:通过氧化钽封装促进氧化锌薄膜晶体管中的载流子迁移率
机译:聚合物基板上的高迁移率碳纳米管薄膜晶体管。