Neue Plattform testet die Ubertragungsraten von LTE: National Instruments stellt ein flexibles Testbed fur die Wireless-Technologien LTE-U und LTE-LAA vor

摘要

MUNCHEN (BL). National Instruments hat ein neuartiges System vorge-stellt, mit dem sich die neuen Wireless-Technologien LTE-U (LTE Unlicensed) und LTE-LAA (License Assisted Access) testen und Prototypen erstellen lassen.