Leiterplatten zuverlassig prufen: Rontgenscanner von Optical Control punktet bei Elektron Systeme

摘要

WEISSENOHE (HI). Der Rontgenscanner OC-Scan CCX von Optical Control kann nach Unternehmensangaben einfach und schnell eine Qualitatsuntersuchung bei schon bestuckten Leiterplatten durchfuhren. Weder durch AOI-Systeme noch durch die visuelle Inspektion konnen Fehler unter bereits bestuckten Bauelementen aufgezeigt werden. Wenn Anwender kein AXI-System haben, zeigt ihnen der OC-Scan CCX Unterlotungen, Unterschwallungen und Kurzschlusse in den THT und SMT-bestuckten Leiterplatten.