机译:使用扫描微波显微镜对复数阻抗和介电常数进行校准测量
nanotechnology: calibration; complex impedance; dielectric constant; resistivity; scanning microwave microscopy;
机译:使用扫描微波显微镜对复数阻抗和介电常数进行校准测量(第25卷,145703,2014)
机译:使用扫描微波显微镜对复数阻抗和介电常数进行校准测量
机译:使用扫描微波显微镜在GHz频率下校准CHO细胞和大肠杆菌的复阻抗
机译:使用微波阻抗显微镜延伸半导体器件的电扫描探针显微镜测量
机译:复介电常数和复磁导率的微波腔扰动测量。
机译:通过扫描微波阻抗显微镜和动态光谱法测定3D架构的集成销二极管
机译:通过扫描微波显微镜直接绘制千兆赫频率下异质非平面薄膜的介电常数