机译:杨氏模量,残余应力和双夹持硅纳米线束的晶体取向
Silicon nanowire; residual tension; atomic force microscopy; crystal orientation;
机译:杨氏模量,残余应力和双夹持硅纳米线束的晶体取向
机译:利用振动双钳位的纳米/纳米同时测定超薄膜的残余应力,弹性模量,密度和厚度
机译:利用微加工梁估算压应力薄膜的残余应力和杨氏模量的技术
机译:硅纳米线的尺寸依赖性和取向依赖性杨氏模量
机译:超声纳米晶体表面改性对低模量Ti-35Nb-7Zr-5Ta-0.3O%合金的残余应力,微观结构和疲劳行为的影响
机译:4H-SiC衬底上4H-SiC圆形膜的杨氏模量和残余应力的研究
机译:利用振动双夹持微/纳米束同时测定超薄膜的残余应力,弹性模量,密度和厚度