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Ion-induced kinetic electron emission from HOPG with different surface orientation

机译:HOPG离子诱导的不同表面取向的动电子发射

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摘要

Total electron emission yields for impact of H+, H-2(+), C+, N+, O+ and Ar+ ions (impact energy 2 - 10 keV) on clean highly oriented pyrolytic graphite ( HOPG) have been measured. An enhancement in the electron yield of more than a factor of 2 is found when comparing results for differently oriented HOPG surfaces ( orientation of the graphite layers with respect to the surface). By analyzing these data we elucidate the influence of electron transport on kinetic electron emission and derive direction-dependent mean escape depths for low-energy electrons.
机译:已测量了H +,H-2(+),C +,N +,O +和Ar +离子(冲击能量2-10 keV)对清洁的高取向热解石墨(HOPG)的影响的总电子发射率。当比较不同取向的HOPG表面(石墨层相对于表面的取向)的结果时,发现电子产率的提高超过2倍。通过分析这些数据,我们阐明了电子传输对动能电子发射的影响,并推导了低能电子与方向相关的平均逸出深度。

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