机译:卢瑟福反向散射光谱法准确测定薄膜中的材料量
机译:卢瑟福反向散射光谱法准确测定薄膜中的材料量
机译:具有二次离子质谱和Rutherford背散射光谱法的深度分析
机译:优化的He束能量窗口,可准确确定通道Rutherford背向散射光谱法中的深度
机译:通过菲涅耳对比度和rutherford在超薄层中反向散射光谱法的比较
机译:使用二次离子质谱法和分析电子显微镜确定小角度和大角度的铁硫合金薄膜双晶中硫的分布(001);扭转界限。
机译:使用精确的非经验密度函数SCAN meta-GGA表征薄膜材料
机译:用卢瑟福反向散射光谱法准确测定薄膜中的材料量
机译:使用组合弹性反冲检测和卢瑟福/增强卢瑟福背散射光谱法进行材料分析