光通信用デバイスのビームプロファイル計測：f-θレンズとカメラの組合せによるファイバFFPのリアルタイム3次元計測

摘要

光通信の発展により、バックボーンからアクセス系まで各種ファイバが幅広く使われている。ファイバをLD、レンズ、導波路デバイスなどに効率的に接続するためには、ファイバの基本特性であるFFP(Far Field Pattern）あるいはNA（開口数）を把握することが重要である。 従来、ファイバのFFP計測にはフォトダイオード走査方式が一般的であったが、計測に時間がかかること、三次元データを得にくいこと、メカ部を持つことによる再現性·信頼性の低さ等の問題があった。 ここではこれらを解決するために、f-θレンズを介してビームの角度情報をカメラで計測し、三次元的なFFPをリアルタイムで計測する方法を紹介する。