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【24h】

アンモニアガス中の水分によるInGaN LEDのEL発光強度への影響-MOVPEによるLED構造の成長におけるアンモニアガス中の水分管理

机译:氨气中的水分对InGaN LED的EL发射强度的影响-MOVPE在LED结构生长中控制氨气中的水分

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摘要

窒化物半導体分野に関連する技術として、有機金属気相成長(MOVPE)技術、NH{sub}3ガス精製技術、原料中の微量不純物分析技術等の技術開発を行っている。 NH{sub}3ガス中の水分は、MOVPEによるGaN系化合物半導体の成長膜に影響を与えると言われる。 本研究では、炉内雰囲気中の水分がInGaN/GaN量子井戸層に取り込まれ、LED (light-emitting diode)のEL発光強度を大きく低下させることを明らかにした。 また、NH{sub}3ガス供給技術の観点から、原料NH{sub}3ガス中に含まれる水分濃度が変動した場合でも、NH{sub}3ガス精製装置を使用することによって、常に安定した純度のNH{sub}3ガス供給が可能であることを、EL発光強度、SIMS分析およびNH{sub}3ガス中の水分濃度をCRDS方式の測定によるOn-Site分析により実証した。
机译:作为与氮化物半导体领域相关的技术,我们正在开发诸如有机金属气相生长(MOVPE)技术,NH {sub} 3气体净化技术以及原材料中的痕量杂质分析技术之类的技术。据称,NH {sub} 3气体中的水分会影响MOVPE生产的GaN基化合物半导体的生长膜。在本研究中,已阐明炉内气氛中的水分被带入了InGaN / GaN量子阱层,这大大降低了LED(发光二极管)的EL发射强度。另外,从NH {sub} 3气体供给技术的观点来看,即使原料NH {sub} 3气体中所含的水分浓度变动,通过使用NH {sub} 3气体净化装置也始终稳定。结果表明,可以通过EL发射强度,SIMS分析和CRDS方法测量NH {sub} 3气体中水的浓度来提供纯度较高的NH {sub} 3气体。

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