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マイクロ波誘導プラズマPT1000によるエアロゾル粒子および粉体の分析

机译:微波感应等离子体PT1000分析气溶胶颗粒和粉末

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摘要

前処理を必要としないHeプラズマを用いた固体のダイレクト発光分析装置が実用化された。 操作も全て自動化されており、複雑な前処理や高度な専門知識を必要としないことから、分析には素人の技術者やオペレーターが簡単に自由に使うことの出来る画期的な装置である。 その迅速な測定手法は半導体のクリーンルームでは汚染物質の特定や制御に実績をあげており、また大気のSPM(粒子状汚染物質)や自動車排ガス、土壌粒子等の環境評価では粒子の起源解析や生成プロセスの解明が期待されている。最近では、トナーや電池等の機能性材料の性状評価が可能なことから、多数の粒子の形態や表面状態を評価する新しい分析手法として、急速に用途を拡大している。 本装置は固体のダイレクト分析法として迅速、簡便さに加え、従来の分析手法にはない新しい切り口が評価され、サンプリング手法の開発に伴い用途は更に広がることが期待される。
机译:不需要预处理的使用He等离子体的固体直接发射分析仪已经投入实际使用。所有操作都是自动化的,并且由于不需要复杂的预处理或高级专业知识,因此它是一种划时代的设备,业余工程师和操作人员可以轻松,自由地使用它们进行分析。其快速测量方法在半导体洁净室中污染物的识别和控制,大气SPM(颗粒污染物),汽车尾气,土壤颗粒等的环境评估,来源分析和颗粒产生方面具有良好的记录。期望阐明该过程。近来,由于可以评估诸如调色剂和电池之类的功能材料的特性,因此,作为用于评估大量颗粒的形态和表面状态的新分析方法,其应用正在迅速扩展。除了可以快速简单地将其作为固体的直接分析方法之外,还对该设备进行了常规分析方法中未发现的新方法的评估,并且有望随着采样方法的发展而进一步扩大其应用范围。

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