Описано устройство, позволяющее подвергать изгибу монокристаллические образцы для исследования искажений кристаллической решетки на рентгеновских топограммах. Изгиб кристаллов осуществляется по схеме четырехопорной геометрии. Радиусы изгиба могут варьироваться от сотен до десятков метров. Устройство предназначено для работы в рентгеновских спектрометрах А-3 японской фирмы Rigaku Denki и в двухкристальных спектрометрах ДТС-1 ИК РАН.
展开▼
