СОВРЕМЕННЫЕ МЕТОДЫ СКАНИРУЮЩЕЙ ЗОНДОВОЙ МИКРОСКОПИИ И СПЕКТРОСКОПИИ

摘要

Дан обзор современным методам сканирующей зондовой микроскопии и спектроскопии. Приведены теоретические модели, позволяющие интерпретировать экспериментальные результаты. Обсуждаются такие перспективные методы, как зондовая нанолитография, сканирующая ближне-польная микроскопия и термоскопия. Подробно проанализирован артефакт, обусловленный конечным размером контактной зоны.