電子顕微鏡による高分子界面の解析

摘要

EELSは，非弾性散乱電子をエネルギーフィルターで分光したスペクトルであり，照射領域に含まれる元素の組成や電子状態を解析することができる．軽元素の分析に有利であり，また，化学結合状態や原子価に関する情報が得られる．筆者らは，近年発達したこれらの電子顕微鏡手法を高分子界面の解析に適用してきだ．本稿では，これらの手法を駆使し，高分子／高分子界面，高分子／フィラー界面，高分子／金属接合界面を解析した事例を紹介する．