ИЗУЧЕНИЕ ДЕФЕКТНОЙ СТРУКТУРЫ КРИСТАЛЛА ПАРАТЕЛЛУРИТА С ПОМОЩЬЮ МНОГОВОЛНОВОЙ ДИФРАКЦИИ И СТАНДАРТНОЙ ДВУХВОЛНОВОЙ ДИФРАКТОМЕТРИИ

摘要

Многоволновая рентгеновская дифракция использована для исследования структуры кристаллических образцов. В кристалле парателлурита проведен цикл локальных измерений кривых дифракционного отражения рефлексов (220) и (371), находящихся в условиях многоволновой дифракции. Полученные данные использованы для сравнения чувствительности к дефектам структуры метода двухволновой дифрактометрии и метода многоволновой дифракции, позволяющего исследовать фазу рентгеновских волн. Результаты сравнения выявили более высокую способность к обнаружению дефектов фазочувствительного метода.