Измерение длины волны узкополосного излучения при обработке цифровых фотографий в raw-формате

摘要

Изложена методика измерения средней длины волны узкополосного излучения в диапазоне 455-625 нм по изображению излучающей поверхности. Используются данные с матрицы фотоаппарата, не обработанные его встроенным процессором (RAW-формат). Метод применяется для определения параметров отклика голографических сенсоров. В зависимости от длины волны и яркости участка изображения среднеквадратичное отклонение длины волны составляет 0.3-3 нм.