スペクトルと分子構造－第23章 単結晶×線構造解析

摘要

単結晶X線構造解析は，単一の結晶性試料（単結晶）に×線を照射し，その結果得られる回折像を複雑な数理処理によって解析し，分子構造を明ら加こする手段である。この方法は原子の位置を直接測定することになるため，まるで分子を写真にでも撮ったように正確で詳細な分子構造を入手することができる。