高圧力下におけるSiO_2ガラスの振る舞い

摘要

ここ数年間でX線ラマン散乱［6，7］，単色X線を用いた回折［8］，100GPa超までのブリリアン散乱［9］などの報告がなされた。著者らも，軽元素からなる非晶質物質を主な対象とした放射光X線を用いた各種測定技術の開発を行い［10-12］，SiO_2ガラスについて，X線吸収法による密度測定［13］，100GPaまでの白色X線による回折測定［14］，一軸応力下におけるX線回折測定［15］などの報告を行ってきた。本稿では，SiO_2ガラスに関する研究について著者らの報告を中心に紹介しつつ，その高圧力下（および一軸応力下）における挙動について概観したい。