電子透かし検出方法のベイズ推定に基づく改良

摘要

筆者は,電子透かしに関する最近の研究で,電子透かし埋め込み/検出システムの解析を行い,電子透かしシステムのモデルを透かし情報の入出力関係に注目してコンボリューションモデルとして記述した.そして,透かし入り画像に対する画像処理や攻撃によって「透かし情報がどのように歪むのか?」,「透かし情報の検出誤りがなぜ起きるのか?」を明確にし,透かし情報の歪みモデルを与えた.本稿では,この歪みモデルを応用して,ベイズ推定に基づく電子透かしの検出法を提案し,透かし情報の歪みモデルが未知ではあるが,その平均や分散などの統計的性質が評価(推定)できる場合について電子透かし検出アルゴリズムを導く.