冷却型CCDの放射線応答

摘要

冷却型CCDの特徴的な白点ノイズの固定点ノイズは、放射線によるシリコン中の照射欠陥が原因であることが、ほぼ確実であるが、ランダムノイズに関しては不明な点が多い。ノイズの空間的な広がり及びノイズ輝度を統計的に分析し、ランダムノイズと固定点ノイズの比較を行った結果、ランダムノイズは、輝度分布に温度依存性が乏しぐ、さらに隣接画素と若干相関があることが明らかとなった。これはノイズ起源を探る上での大きなヒントであると考えられる。