ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象－ハンマリング加振機構の特性に関する基礎的検討（27）

摘要

著者らは，いくつかの加振機構（ハンマリング加振機構，微摺動機構，タッビング·デバイスなど）により，実際の微小振動による電気接点の影響を検討してきた．著者らは，鉛直方向のハンマリング加振によって，電気接点に実際の環境と類似した振動を加えることのできる機構を設計·開発し，さらにこれを用いた微小振動の影響に関する解析を行ってきた．また，ハンマリング加振機構を用いて，基板上の電子デバイスのような比較的軽量な対象物を解析するのに必要な“有効質量”，“有効加振力”，“有効加速度”のような基本的力学パラメータを評価する，簡便でかつ実際的な評価方法を提案してきた．本論文では，これらのパラメータに加え“付加質量パラメータ”を導入し，本方法論では不可欠である付加質量の影響および上記評価方法における力学パラメータの妥当性を検討する．そして，ハンマリング加振機構（HOM）により，上記評価方法における“有効加速度”のデータと静電容量変位計による変位から計算したデータについて比較検討する．