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机译:缺陷大于三个的节点的配置
Bivariate polynomial interpolation; Geometric characterization;
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机译:减少抗蚀剂消耗工艺条件对20nm节点处的总原始缺陷,线和空间缺陷以及单线开口缺陷的影响
机译:高k /硅和高k /砷化镓栅极结构中的缺陷和键合结构。
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机译:评估多节点传感器网络配置对操作速度的影响。