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Scanning Microscopy

机译:扫描显微镜

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摘要

Monterey (CA/USA) - SPIE Scanning Microscopy 2010 will take place 17-19 May in Monterey (USA). Its focus will be on food analysis, forensics, and biological applications.
机译:蒙特雷(美国加利福尼亚州)-SPIE扫描显微镜2010年将于5月17日至19日在美国蒙特雷举行。它的重点将放在食品分析,法医和生物学应用上。

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