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X-ray Photoelectron Spectroscopy as an Analysis Tool for Coatings

机译:X射线光电子能谱作为涂层的分析工具

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摘要

This article is the second in a series focusing on surface analysis techniques for studying the surface composition of solid materials in automotive paint operations. The first, published in the January 2011 issue of CoatingsTech (Vol. 8, No. 1, pp 46-47) provided an overview of three techniques that will be covered in the series. Upcoming articles will detail Auger electron spectroscopy (AES) and secondary ion mass spectrometry (SIMS). Together, these complementary methods can be used to resolve the majority of the technical questions that concern the surface chemistry of solid materials.
机译:本文是有关表面分析技术的系列文章中的第二篇,该技术用于研究汽车油漆操作中固体材料的表面组成。第一版发表在2011年1月的CoatingsTech(第8卷,第1期,第46-47页)上,概述了本系列中将涉及的三种技术。即将发表的文章将详细介绍俄歇电子能谱(AES)和二次离子质谱(SIMS)。总之,这些互补的方法可用于解决涉及固体材料表面化学的大多数技术问题。

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