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机译:两层非均匀NiFe-Dy和Fe-Dy薄膜的磁光效应和俄歇电子能谱
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机译:扫描电子显微镜和俄歇电子能谱法测定几层六方氮化硼薄膜的厚度
机译:多层铬-铜-镍-金-金薄膜的低温扩散的分析电子显微镜和俄歇电子能谱研究
机译:附加效应对边界膜形成:螺旋钻电子光谱的深度剖面 - (PPT)
机译:用正电子an没诱导俄歇电子能谱研究金/铜(100)和钯/铜(100)的亚单层膜
机译:通过俄歇电子能谱和X射线光电子能谱定量测定表面成分的有效衰减长度
机译:用扫描电子显微镜和俄歇电子能谱测定少量六方氮化硼薄膜的厚度
机译:在300 K和100 K下的TlBaCaCuO(sub X)薄膜的aEs(俄歇电子能谱)和EELs(电子能量损失光谱)分析