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Scandium oxide coated polycrystalline tungsten studied using emission microscopy and photoelectron spectroscopy

机译:用发射显微镜和光电子能谱研究氧化dium包覆的多晶钨

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摘要

Thermionic electron emission from 200 to 500 nm thick coatings of scandium oxide on tungsten foil have been examined in thermionic emission microscopy, spectroscopic photoelectron microcopy, synchrotron radiation and ultraviolet photoelectron spectroscopy (UPS). A clear dependence of the scandium oxide-W electron yield on the grain orientation of the polycrystalline tungsten is observed in thermionic emission and photoelectron emission.
机译:已经在热电子发射显微镜,光谱光电子显微镜,同步辐射和紫外光电子光谱(UPS)中检查了在钨箔上200到500 nm厚的氧化涂层的热电子发射。在热电子发射和光电子发射中观察到氧化dium-W电子产率对多晶钨的晶粒取向的明显依赖性。

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