Die Serie phoenix microme/x / nanome/x mit 180-kV-Mikro-/Nanofokus-Inspektionssystemen vereint die hoch auflosende 2D-Rontgentechnologie mit 3D-CT (Computer Tomography) in einer Anlage. Mit ihrer extrem hohen Positioniergenauigkeit bildet diese Anlage von GE Measurement & Control eine effektive und zuverlassige Losungssr Offline-Prufungen in 2D und 3D. Das gilt fur Forschung und Entwicklung, Fehleranalyse in der Produktion, sowie die Prozess- und Qualitatskontrolle.
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机译：具有180 kV微米/纳米焦点检测系统的phoenix microme / x / nanome / x系列在一个系统中将高分辨率2D X射线技术与3D CT（计算机断层扫描）相结合。 GE Measurement＆Control的该系统具有极高的定位精度，为2D和3D离线测试提供了有效而可靠的解决方案。这适用于研发，生产中的错误分析以及过程和质量控制。
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