Zastosowanie nowoczesnej mikroskopii elektronowej do badan procesow wydzieleniowych w stalach AHSS oraz mikrostruktury i skladu chemicznego warstw wierzchnich i materialow o malej przewodnosci elektrycznejNSebastian Arabasz

摘要

Celem pracy bylo opracowanie procedur przygotowania probek warstwowych do badan metodami mikroskopii S/TEM oraz ocena mozliwosci technik S/TEM do analizy wydzielen roznej wielkosci. Ponadto, zbadano mozliwosc wykorzystania trybow niskoprozniowych SEM do badania probek nieprzewodzacych.