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Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue
>2008年第1期
Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue
中文名称:晶体学杂志。补编问题
ISSN:
0930-486X
出版周期:
-
发文量:107
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条结果
1.
Profiling of fibre texture gradients in thin films by anomalous X-ray diffraction
机译:
X射线反常衍射分析薄膜中纤维质地梯度
作者:
M. Birkholz
;
N. Darowski
;
I. Zizak
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
X-ray diffraction;
texture;
thin films;
texture gradient;
2.
Microstructural characterisation of Cr-Al-N nanocomposites deposited by cathodic arc evaporation
机译:
阴极电弧蒸发沉积Cr-Al-N纳米复合材料的微观结构表征
作者:
Ch. Wiistefele
;
M. Dopita
;
V. Klemm
;
D. Heger
;
D. Rafaja
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
powder diffraction;
line broadening;
nanocrystalline materials;
microstructural defects;
nanocomposites;
3.
Interference phenomena in nanocrystal- line materials and their application in the microstructure analysis
机译:
纳米晶材料中的干扰现象及其在微结构分析中的应用
作者:
D. Rafaja
;
V. Klemm
;
Ch. Wiistefeld
;
M. Motylenko
;
M. Dopita
;
M. Schwarz
;
T. Barsukova
;
E. Kroke
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
nanocrystalline materials;
partial coherence of crystallites;
XRD;
TEM;
4.
Residual stress and elastic anisotropy in the Ti-Al-(Si-)N and Cr-Al-(Si-)N nanocomposites deposited by cathodic arc evaporation
机译:
阴极电弧蒸发沉积Ti-Al-(Si-)N和Cr-Al-(Si-)N纳米复合材料中的残余应力和弹性各向异性
作者:
M. Dopita
;
Ch. Wiistefeld
;
V. Klemm
;
G. Schreiber
;
D. Heger
;
M. Ruzcka
;
D. Rafaja
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
thin coatings;
nanocomposites;
residual stress;
elastic anisotropy;
texture;
5.
Refining real structure parameters of disordered layer structures within the Rietveld method
机译:
用Rietveld方法细化无序层结构的真实结构参数
作者:
K. Ufer
;
R. Kleeberg
;
J. Bergmann
;
H. Curtius
;
R. Dohrmann
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
DIFFaX;
BGMN;
Rietveld refinement;
layered structures;
planar disorder;
lay.ered double hydroxide (LDH);
6.
Impact of dislocation cell elastic strain variations on line profiles from deformed copper
机译:
位错单元弹性应变变化对变形铜线轮廓的影响
作者:
I L. E. Levine
;
B. C. Larson
;
J. Z. Tischler
;
P. Geantil
;
M. E. Kassner
;
W. Liu
;
M. R. Stoudt
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
micro-diffraction;
dislocations;
residual stress;
plastic deformation;
7.
Determination of stored elastic energy in plastically deformed copper
机译:
塑性变形铜中储存的弹性能的测定
作者:
A. Baczmanski
;
N. Hfaiedh
;
M. Francois
;
K. Saanouni
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
diffraction;
self-consistent model;
residual stresses;
crystallographic texture;
8.
Microstructural characterisation of Cr-Al-N nanocomposites deposited by cathodic arc evaporation
机译:
阴极电弧蒸发沉积Cr-Al-N纳米复合材料的微观结构表征
作者:
Ch. Wiistefele
;
M. Dopita
;
V. Klemm
;
D. Heger
;
D. Rafaja
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
powder diffraction;
line broadening;
nanocrystalline materials;
microstructural defects;
nanocomposites;
9.
Peculiarities of the X-ray diffraction of oxygen-deficient perovskite-related materials with partial vacancy ordering
机译:
缺氧钙钛矿相关材料的X射线衍射特征与部分空位有序
作者:
S. V. Cherepanova
;
S. V. Tsybulya
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
oxygen-deficient perovskite;
vacancy ordering;
1D disordering;
X-ray diffrac-tion;
simulation;
10.
Interference phenomena in nanocrystal- line materials and their application in the microstructure analysis
机译:
纳米晶材料中的干扰现象及其在微结构分析中的应用
作者:
D. Rafaja
;
V. Klemm
;
Ch. Wiistefeld
;
M. Motylenko
;
M. Dopita
;
M. Schwarz
;
T. Barsukova
;
E. Kroke
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
nanocrystalline materials;
partial coherence of crystallites;
XRD;
TEM;
11.
Residual stress and elastic anisotropy in the Ti-Al-(Si-)N and Cr-Al-(Si-)N nanocomposites deposited by cathodic arc evaporation
机译:
阴极电弧蒸发沉积Ti-Al-(Si-)N和Cr-Al-(Si-)N纳米复合材料中的残余应力和弹性各向异性
作者:
M. Dopita
;
Ch. Wiistefeld
;
V. Klemm
;
G. Schreiber
;
D. Heger
;
M. Ruzcka
;
D. Rafaja
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
thin coatings;
nanocomposites;
residual stress;
elastic anisotropy;
texture;
12.
Refining real structure parameters of disordered layer structures within the Rietveld method
机译:
用Rietveld方法细化无序层结构的真实结构参数
作者:
K. Ufer
;
R. Kleeberg
;
J. Bergmann
;
H. Curtius
;
R. Dohrmann
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
DIFFaX;
BGMN;
Rietveld refinement;
layered structures;
planar disorder;
lay.ered double hydroxide (LDH);
13.
In-situ X-ray diffraction investigations of thin films: Determination of thermoelastic constants
机译:
薄膜的原位X射线衍射研究:热弹性常数的测定
作者:
Y. Kuru
;
M. Wohlschlogel
;
U. Welzel
;
E. J. Mittemeijer
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
residual stress;
diffusion;
metal thin films;
14.
Structural and optical properties of AgInSe_2 films
机译:
AgInSe_2薄膜的结构和光学性质
作者:
R. K. Bedi
;
D. Pathak
;
Deepak
;
D. Kaur
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
thin films;
AgInSe_2;
AFM;
optical properties;
15.
Structural state of Eu_2(MoO_4)_3 single crystal after different thermobaric treatments
机译:
不同热压处理后Eu_2(MoO_4)_3单晶的结构状态
作者:
E. A. Kudrenko
;
I. M. Shmyeko
;
V. V. Sinitsyn
;
E. G. Ponyatovsky
;
B. N. Redkin
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
rare-earth compounds;
high-pressure amorphization;
X-ray diffraction;
dilatome-try study;
16.
Optimisation of coherent X-ray diffraction imaging at ultrabright synchrotron sources
机译:
超亮同步加速器源相干X射线衍射成像的优化
作者:
Ian K. Robinson
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
diffraction;
coherence;
imaging;
nanocrystals;
synchrotron radiation;
17.
Anomalous structure of nanocrystallites of rare-earth compounds produced by sol-gel methods
机译:
溶胶-凝胶法制备稀土化合物纳米微晶的异常结构
作者:
I. M. Shmytko
;
E. A. Kudrenko
;
G. K. Strukova
;
V. V. Kedrov
;
N. V. Klassen
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
nanoscaled rare-earth compounds;
X-ray diffraction investigations;
18.
Crystallite size and micro- and macro-strain changes during layer exchangeupon annealing amorphous/crystalline aluminium
机译:
非晶态/结晶态铝退火过程中层交换过程中的微晶尺寸以及微应变和宏观应变变化
作者:
D. He
;
J. Y. Wang
;
E. J. Mittemeijer
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
crystallite size;
stress;
strain;
layer exchange;
19.
Refinement of extinction-affected X-ray reflection profile of textures
机译:
细化消光影响的X射线反射轮廓
作者:
Tomov
;
S. Vassilev
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
XRD;
extinction;
texture;
integral breadth;
FWHM;
20.
Influence of reactive plasmas on thin nickel films
机译:
反应性等离子体对镍薄膜的影响
作者:
M. Quaas
;
O. Ivanova
;
C. A. Helm
;
H. Wulff
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
reactive plasmas;
thin films;
grazing incidence x-ray diffraction;
21.
In situ synchrotron X-ray diffraction study of formation mechanism of _(0.33)Re_(0.67) nanoalloy powder upon thermal decomposition of complex
机译:
复合物热分解后_(0.33)Re_(0.67)纳米合金粉末形成机理的原位同步加速器X射线衍射研究
作者:
E. Filatov
;
Yu. Shubin
;
M. Sharafutdinov
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
in situ powder diffraction;
synchrotron;
nanoalloy;
complex precursor;
22.
On the simulation of the anisotropic peak broadening in powder diffraction
机译:
粉末衍射中各向异性峰展宽的模拟
作者:
V. B. Zlokazov
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
powder diffraction;
conference;
anisotropic broadening;
Rietveld analysis;
23.
Determination of residual stress at weld interruptions by neutron diffraction
机译:
用中子衍射测定焊接中断处的残余应力
作者:
M. Turski
;
J. A. Francis
;
P. J. Withers
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
neutron diffraction;
structural integrity;
intergranular stress;
macrostress length scales;
welding;
microstresses;
24.
Structural studies of submicrocrystalline copper and copper composites by different methods
机译:
亚微晶铜和铜复合材料不同方法的结构研究
作者:
R. Kuzel
;
V. Cherkaska
;
Z. Matej
;
M. Janecek
;
J. Cizek
;
M. Dopita
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
line profile analysis;
transmission electron microscopy;
electron backscatter diffraction;
positron annihilation spectroscopy;
25.
XRD and FTIR characterization of nanocrystalline YVO_4: Eu derived by co-precipitation process
机译:
共沉淀法制备纳米晶YVO_4:Eu的XRD和FTIR表征
作者:
E. Borca
;
M. Bercu
;
S. Georgescu
;
S. Hodorogea
;
E. Cotoi
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
XRD;
line broadening;
crystallite size;
FTIR;
nanophosphors;
26.
Magnetron deposited TiO_2 thin films -crystallization and temperature dependence of microstructure and phase composition
机译:
磁控沉积TiO_2薄膜的晶化和温度依赖性的微结构和相组成
作者:
R.Kuzel
;
L.Nichtova
;
Z.Matej
;
J.Sicha
;
J.Usil
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
powder diffraction;
titanium dioxide;
crystallization;
nanocrystalline thin films;
27.
In situ synchrotron X-ray diffraction study of formation mechanism of _(0.33)Re_(0.67) nanoalloy powder upon thermal decomposition of complex
机译:
复合物热分解后_(0.33)Re_(0.67)纳米合金粉末形成机理的原位同步加速器X射线衍射研究
作者:
E. Filatov
;
Yu. Shubin
;
M. Sharafutdinov
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
in situ powder diffraction;
synchrotron;
nanoalloy;
complex precursor;
28.
XRD and FTIR characterization of nanocrystalline YVO_4: Eu derived by co-precipitation process
机译:
共沉淀法制备纳米晶YVO_4:Eu的XRD和FTIR表征
作者:
E. Borca
;
M. Bercu
;
S. Georgescu
;
S. Hodorogea
;
E. Cotoi
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
XRD;
line broadening;
crystallite size;
FTIR;
nanophosphors;
29.
Microstructure study on BN nano-composites using XRD and HRTEM
机译:
XRD和HRTEM研究BN纳米复合材料的微观结构
作者:
M. Motylenko
;
V. Klemm
;
G. Schreiber
;
D. Rafaja
;
M. Schwarz
;
T. Barsukova
;
E. Kroke
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
boron nitride;
nanocomposites;
HP/HT synthesis;
XRD;
HRTEM;
30.
XRD line profile analysis of calcite powders produced by high energy milling
机译:
高能磨制方解石粉的XRD线形分析
作者:
H. Pesenti
;
M. Leoni
;
P. Scardi
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
diffraction;
line profile analysis;
carbonates;
ball milling;
WPPM;
31.
Peculiarities of the X-ray diffraction of oxygen-deficient perovskite-related materials with partial vacancy ordering
机译:
缺氧钙钛矿相关材料的X射线衍射特征与部分空位有序
作者:
S. V. Cherepanova
;
S. V. Tsybulya
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
oxygen-deficient perovskite;
vacancy ordering;
1D disordering;
X-ray diffrac-tion;
simulation;
32.
Influence of reactive plasmas on thin nickel films
机译:
反应性等离子体对镍薄膜的影响
作者:
M. Quaas
;
O. Ivanova
;
C. A. Helm
;
H. Wulff
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
reactive plasmas;
thin films;
grazing incidence x-ray diffraction;
33.
Capacitor discharge sintering of nanocrystalline copper
机译:
纳米晶铜的电容器放电烧结
作者:
A. Fais
;
P. Scardi
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
capacitor discharge sintering;
electron back scattering diffraction;
line profile analysis;
whole powder pattern modelling;
nanocrystalline materials;
34.
Determination of residual stress at weld interruptions by neutron diffraction
机译:
用中子衍射测定焊接中断处的残余应力
作者:
M. Turski
;
J. A. Francis
;
P. J. Withers
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
neutron diffraction;
structural integrity;
intergranular stress;
macrostress length scales;
welding;
microstresses;
35.
X-ray residual stress analysis in CVD multilayer systems: Influence of steep gradients on the line profile shape and - symmetry
机译:
CVD多层系统中的X射线残余应力分析:陡峭梯度对线轮廓形状和对称性的影响
作者:
M. Klaus
;
Ch. Genzel
;
H. Holzschuh
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
X-ray stress analysis;
multilayer systems;
residual stress gradients;
diffraction line profile;
36.
Diffraction analysis of layer disorder
机译:
层紊乱的衍射分析
作者:
M. Leoni
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
planar faulting;
37.
Cumulants and moments in the line profile analysis
机译:
在线轮廓分析中的累积量和矩
作者:
M. ernansk
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
cumulants;
moments;
diffraction profile;
single line method;
38.
On the simulation of the anisotropic peak broadening in powder diffraction
机译:
粉末衍射中各向异性峰展宽的模拟
作者:
V. B. Zlokazov
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
powder diffraction;
conference;
anisotropic broadening;
Rietveld analysis;
39.
Profiling of fibre texture gradients in thin films by anomalous X-ray diffraction
机译:
X射线反常衍射分析薄膜中纤维质地梯度
作者:
M. Birkholz
;
N. Darowski
;
I. Zizak
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
X-ray diffraction;
texture;
thin films;
texture gradient;
40.
Characterization of hot wall grown N-9-anthracenylidene-l-anthramine films
机译:
热壁生长的N-9-蒽亚基-1-蒽胺薄膜的表征
作者:
R. K. Bedi
;
S. S. Brar
;
N. Kaur
;
S. Kumar
;
A. Mahajan
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
N-9-anthracenylidene-l-anthramine;
thin films;
structure;
electrical properties;
optical properties;
41.
Optimisation of coherent X-ray diffraction imaging at ultrabright synchrotron sources
机译:
超亮同步加速器源相干X射线衍射成像的优化
作者:
Ian K. Robinson
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
diffraction;
coherence;
imaging;
nanocrystals;
synchrotron radiation;
42.
Cumulants and moments in the line profile analysis
机译:
在线轮廓分析中的累积量和矩
作者:
M. ernansk
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
cumulants;
moments;
diffraction profile;
single line method;
43.
Anomalous structure of nanocrystallites of rare-earth compounds produced by sol-gel methods
机译:
溶胶-凝胶法制备稀土化合物纳米微晶的异常结构
作者:
I. M. Shmytko
;
E. A. Kudrenko
;
G. K. Strukova
;
V. V. Kedrov
;
N. V. Klassen
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
nanoscaled rare-earth compounds;
X-ray diffraction investigations;
44.
Characterization of hot wall grown N-9-anthracenylidene-l-anthramine films
机译:
热壁生长的N-9-蒽亚基-1-蒽胺薄膜的表征
作者:
R. K. Bedi
;
S. S. Brar
;
N. Kaur
;
S. Kumar
;
A. Mahajan
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
N-9-anthracenylidene-l-anthramine;
thin films;
structure;
electrical properties;
optical properties;
45.
Recent advancements in Whole Powder Pattern Modelling
机译:
整体粉末模式建模的最新进展
作者:
P. Scardi
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
Line Profile Analysis;
Whole Powder Pattern Modelling;
dislocations;
domain size distribution;
powder diffraction;
46.
X-ray line-broadening analysis of dislocations in a single crystal of Zr
机译:
Zr单晶中位错的X射线线宽分析
作者:
M. Griffiths
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
Dislocations;
strain;
irradiation;
line-broadening;
47.
Diffraction analysis of elastic strains in micro- and nanostructures
机译:
微观和纳米结构中弹性应变的衍射分析
作者:
O. Thomas
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
stress;
strain;
thin film;
coherent diffraction;
microdiffraction;
nanoobjects;
48.
X-ray residual stress analysis in CVD multilayer systems: Influence of steep gradients on the line profile shape and - symmetry
机译:
CVD多层系统中的X射线残余应力分析:陡峭梯度对线轮廓形状和对称性的影响
作者:
M. Klaus
;
Ch. Genzel
;
H. Holzschuh
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
X-ray stress analysis;
multilayer systems;
residual stress gradients;
diffraction line profile;
49.
Structural and optical properties of AgInSe_2 films
机译:
AgInSe_2薄膜的结构和光学性质
作者:
R. K. Bedi
;
D. Pathak
;
Deepak
;
D. Kaur
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
thin films;
AgInSe_2;
AFM;
optical properties;
50.
Magnetron deposited TiO_2 thin films -crystallization and temperature dependence of microstructure and phase composition
机译:
磁控沉积TiO_2薄膜的晶化和温度依赖性的微结构和相组成
作者:
R.Kuzel
;
L.Nichtova
;
Z.Matej
;
J.Sicha
;
J.Usil
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
powder diffraction;
titanium dioxide;
crystallization;
nanocrystalline thin films;
51.
Recent advancements in Whole Powder Pattern Modelling
机译:
整体粉末模式建模的最新进展
作者:
P. Scardi
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
Line Profile Analysis;
Whole Powder Pattern Modelling;
dislocations;
domain size distribution;
powder diffraction;
52.
X-ray line-broadening analysis of dislocations in a single crystal of Zr
机译:
Zr单晶中位错的X射线线宽分析
作者:
M. Griffiths
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
Dislocations;
strain;
irradiation;
line-broadening;
53.
Impact of dislocation cell elastic strain variations on line profiles from deformed copper
机译:
位错单元弹性应变变化对变形铜线轮廓的影响
作者:
I L. E. Levine
;
B. C. Larson
;
J. Z. Tischler
;
P. Geantil
;
M. E. Kassner
;
W. Liu
;
M. R. Stoudt
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
micro-diffraction;
dislocations;
residual stress;
plastic deformation;
54.
Capacitor discharge sintering of nanocrystalline copper
机译:
纳米晶铜的电容器放电烧结
作者:
A. Fais
;
P. Scardi
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
capacitor discharge sintering;
electron back scattering diffraction;
line profile analysis;
whole powder pattern modelling;
nanocrystalline materials;
55.
Grain stresses and elastic energy in ferritic steel under uniaxial load
机译:
单轴载荷下铁素体钢的晶粒应力和弹性能
作者:
A. Baczmanski
;
A. Tidu
;
P. Lipinski
;
K. Wierzbanowski
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
diffraction;
self-consistent model;
residual stresses;
crystallographic texture;
56.
Stress and hardness in surface layers of shot-peened steels
机译:
喷丸钢表面层的应力和硬度
作者:
J. Drahokoupil
;
N. Ganev
;
M. ernansky
;
P. Bohac
;
R. tvrtlik
;
M. Stranyanek
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
microstrain;
hardness;
macroscopic stress;
shot peening;
steels;
57.
Grain stresses and elastic energy in ferritic steel under uniaxial load
机译:
单轴载荷下铁素体钢的晶粒应力和弹性能
作者:
A. Baczmanski
;
A. Tidu
;
P. Lipinski
;
K. Wierzbanowski
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
diffraction;
self-consistent model;
residual stresses;
crystallographic texture;
58.
Diffraction analysis of layer disorder
机译:
层紊乱的衍射分析
作者:
M. Leoni
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
planar faulting;
59.
Structural state of Eu_2(MoO_4)_3 single crystal after different thermobaric treatments
机译:
不同热压处理后Eu_2(MoO_4)_3单晶的结构状态
作者:
E. A. Kudrenko
;
I. M. Shmyeko
;
V. V. Sinitsyn
;
E. G. Ponyatovsky
;
B. N. Redkin
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
rare-earth compounds;
high-pressure amorphization;
X-ray diffraction;
dilatome-try study;
60.
Diffraction analysis of elastic strains in micro- and nanostructures
机译:
微观和纳米结构中弹性应变的衍射分析
作者:
O. Thomas
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
stress;
strain;
thin film;
coherent diffraction;
microdiffraction;
nanoobjects;
61.
Determination of stored elastic energy in plastically deformed copper
机译:
塑性变形铜中储存的弹性能的测定
作者:
A. Baczmanski
;
N. Hfaiedh
;
M. Francois
;
K. Saanouni
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
diffraction;
self-consistent model;
residual stresses;
crystallographic texture;
62.
Crystallite size and micro- and macro-strain changes during layer exchangeupon annealing amorphous/crystalline aluminium
机译:
非晶态/结晶态铝退火过程中层交换过程中的微晶尺寸以及微应变和宏观应变变化
作者:
D. He
;
J. Y. Wang
;
E. J. Mittemeijer
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
crystallite size;
stress;
strain;
layer exchange;
63.
Refinement of extinction-affected X-ray reflection profile of textures
机译:
细化消光影响的X射线反射轮廓
作者:
Tomov
;
S. Vassilev
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
XRD;
extinction;
texture;
integral breadth;
FWHM;
64.
Microstructure study on BN nano-composites using XRD and HRTEM
机译:
XRD和HRTEM研究BN纳米复合材料的微观结构
作者:
M. Motylenko
;
V. Klemm
;
G. Schreiber
;
D. Rafaja
;
M. Schwarz
;
T. Barsukova
;
E. Kroke
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
boron nitride;
nanocomposites;
HP/HT synthesis;
XRD;
HRTEM;
65.
Structural studies of submicrocrystalline copper and copper composites by different methods
机译:
亚微晶铜和铜复合材料不同方法的结构研究
作者:
R. Kuzel
;
V. Cherkaska
;
Z. Matej
;
M. Janecek
;
J. Cizek
;
M. Dopita
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
line profile analysis;
transmission electron microscopy;
electron backscatter diffraction;
positron annihilation spectroscopy;
66.
In-situ X-ray diffraction investigations of thin films: Determination of thermoelastic constants
机译:
薄膜的原位X射线衍射研究:热弹性常数的测定
作者:
Y. Kuru
;
M. Wohlschlogel
;
U. Welzel
;
E. J. Mittemeijer
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
residual stress;
diffusion;
metal thin films;
67.
XRD line profile analysis of calcite powders produced by high energy milling
机译:
高能磨制方解石粉的XRD线形分析
作者:
H. Pesenti
;
M. Leoni
;
P. Scardi
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
diffraction;
line profile analysis;
carbonates;
ball milling;
WPPM;
68.
Stress and hardness in surface layers of shot-peened steels
机译:
喷丸钢表面层的应力和硬度
作者:
J. Drahokoupil
;
N. Ganev
;
M. ernansky
;
P. Bohac
;
R. tvrtlik
;
M. Stranyanek
期刊名称:
《Zeitschrift fur Kristallographie. Supplement issue》
|
2008年第1期
关键词:
microstrain;
hardness;
macroscopic stress;
shot peening;
steels;
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